掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)(聲子)、電子振蕩(等離子體)。被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。關(guān)于掃描電子顯微鏡的15個(gè)問題1.光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì)，電子顯微鏡以電子束為介質(zhì)，由于電子束波長遠(yuǎn)較可...

任意波形發(fā)生器是仿真實(shí)驗(yàn)的最佳儀器之一，任意波形發(fā)生器是信號(hào)源的一種，它具有信號(hào)源所有的特點(diǎn)。我們傳統(tǒng)都認(rèn)為信號(hào)源主要給被測電路提供所需要的已知信號(hào)(各種波形)，然后用其它儀表測量感興趣的參數(shù)。可見信號(hào)源在電子實(shí)驗(yàn)和測試處理中，并不測量任何參數(shù)而是根據(jù)使用者的要求，仿真各種測試信號(hào)，提供給被測電路，以達(dá)到測試的需要。任意波形發(fā)生器的功能一、函數(shù)功能，仿真基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)人員的環(huán)境函數(shù)信號(hào)源是使用*的通用信號(hào)源，它能提供正弦波、鋸齒波、方波、脈沖串等波形，有的還同時(shí)具有調(diào)制和掃描...

電子顯微鏡已經(jīng)成為表征各種材料的有力工具。它的多功能性和*的空間分辨率使其成為許多應(yīng)用中非常有價(jià)值的工具。其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。在這篇文中，將簡要描述他們的相似點(diǎn)和不同點(diǎn)。掃描電鏡和透射電鏡的工作原理從相似點(diǎn)開始,這兩種設(shè)備都使用電子來獲取樣品的圖像。他們的主要組成部分是相同的;電子源;電磁和靜電透鏡控制電子束的形狀和軌跡;光闌。所有這些組件都存在于高真空中。現(xiàn)在轉(zhuǎn)向這兩種設(shè)備的差異性。掃描電鏡(SEM)使用一組特定的...

AFM探針由于應(yīng)用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應(yīng)用領(lǐng)域不廣，使用量也不多。由于探針壽命短，分辨率不高也不穩(wěn)定且一致性差，各國都在開發(fā)新型探針。1、非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：常用的產(chǎn)品，分辨率高，使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應(yīng)用于表面形貌觀察。2、導(dǎo)電探針：通過對(duì)普通探針鍍10-50納米厚的Pt(以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬，如Cr，Ti，Pt和Ir等)得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM，KFM，SCM等。導(dǎo)電探針分辨率比t...

掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡的工作原理電子顯微鏡已經(jīng)成為表征各種材料的有力工具。它的多功能性和*的空間分辨率使其成為許多應(yīng)用中非常有價(jià)值的工具。其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。在這篇文中，將簡要描述他們的相似點(diǎn)和不同點(diǎn)。掃描電鏡和透射電鏡的工作原理從相似點(diǎn)開始,這兩種設(shè)備都使用電子來獲取樣品的圖像。他們的主要組成部分是相同的;電子源;電磁和靜電透鏡控制電子束的形狀和軌跡;光闌。所有這些組件都存在于高真空中。現(xiàn)在轉(zhuǎn)向這兩種設(shè)備的...